Binet, Alfred {bi'ne:}, *Nizza 11.7.1857, +Paris 18.11.1911, frz. Psychologe, entwickelte zusammen mit dem frz. Psychologen T. Simon noch heute verwendete Testreihen (B.-Simon-Test), mit denen bei Kindern zwischen 3 und 15 Jahren das sog. Intelligenzalter ermittelt wird (das dann, in Beziehung zum Lebensalter gesetzt, über Intelligenzvorsprung oder -rückstand Aufschluß gibt).
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